電火花式光電直讀光譜儀,OES:基于CCD檢測(cè)器和光路技術(shù),全面測(cè)試各種金屬中元素的譜線,靈活低成本實(shí)現(xiàn)更多基體、元素的測(cè)試。
江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測(cè)試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售一體型企業(yè)。 2011年1月25日,天瑞儀器在深圳創(chuàng)業(yè)板塊上市。股票代碼為300165。分析儀器行業(yè)的家也是目前一家上市公司.
光電直讀光譜儀是指應(yīng)用光電轉(zhuǎn)換接收方法作多元素同時(shí)分析的發(fā)射光譜儀器。由于電感耦合高頻等離子體光源的廣泛使用,使光電直讀光譜儀在光譜儀中占有主要地位。
1.分光室設(shè)計(jì)
帕邢-龍格結(jié)構(gòu),羅蘭圓直徑350mm
波長(zhǎng)范圍140 – 800nm
像素分辨率10pm
恒溫34℃±0.5℃
特殊材質(zhì)鑄造,保證光室形變小
2.凹面光柵
刻線密度3600l/mm
一級(jí)光譜線色散率:1.2 nm/mm
3.檢測(cè)器
高性能線陣CCD
4.分析時(shí)間
依樣品種類而不同,一般少于30秒
5.激發(fā)光源
全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)
高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)
頻率100-1000Hz
電流1-80A
6.激發(fā)臺(tái)
4mm樣品臺(tái)分析間隙
噴射電極技術(shù)
無(wú)待機(jī)流量,低氬氣消耗
7.電火花式光電直讀光譜儀,OES尺寸和重量
高450mm 長(zhǎng)750 mm 寬800 mm
85 kg
8.電火花式光電直讀光譜儀,OES功率
功率1500W
待機(jī)功率70W
工作條件
工作溫度:15-30℃
相對(duì)濕度:≤70%
電 源:220±5V,單相50Hz,接地電阻<1Ω
實(shí)驗(yàn)室無(wú)震動(dòng)、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體
輔助設(shè)備
高純氬氣——純度99.999%以上
交流參數(shù)穩(wěn)壓電源——1KVA
光譜磨樣機(jī)——用于鋼鐵、鎳合金等樣品
小型車床——用于鋁、銅、鋅、鎂合金等樣品
空調(diào)——依實(shí)驗(yàn)室面積配置匹配功率
技術(shù)優(yōu)勢(shì)
全譜檢測(cè)全面測(cè)試各種金屬和元素
基于CCD檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù),全面測(cè)試各種金屬中元素的譜線,方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測(cè)試。
配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便,方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測(cè)試元素、分析程序。
專業(yè)的測(cè)試方案
長(zhǎng)期測(cè)試技術(shù)服務(wù)的積淀,天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測(cè)試方案。
測(cè)試方案采用針對(duì)材料元素含量分類的分析程序,滿足用戶各類常見(jiàn)測(cè)試需求。
分析程序由原廠采用國(guó)際、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn),經(jīng)專業(yè)儀器軟件擬合、校正。
用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù),不需購(gòu)買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
核心部件
光譜色散元件——光柵由德國(guó)Zeiss制造,保證優(yōu)異的光譜分辨能力
光譜檢測(cè)器——光電倍增管由日本Toshiba制造,確保譜線檢測(cè)靈敏、低噪聲
光學(xué)鏡片——德國(guó)Zeiss制造,光纖——美國(guó)Agilent制造
的光室恒溫系統(tǒng)
光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和高效隔溫層,有效保證光室內(nèi)恒溫。
由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。同時(shí)光電器件工作在恒溫環(huán)境有助于性能的穩(wěn)定。
1、分析速度快;準(zhǔn)確度高,相對(duì)誤差約為1%;
2、適用于較寬的波長(zhǎng)范圍;光電倍增管對(duì)信號(hào)放大能力強(qiáng),對(duì)強(qiáng)弱不同譜線可用不同的放大倍率,3、相差可達(dá)10000倍,因此它可用同一分析條件對(duì)樣品中多種含量 范圍差別很大的元素同時(shí)進(jìn)行分析;
4、線性范圍寬,可做高含量分析?! ?/p>
光電直讀光譜儀缺點(diǎn):
1、出射狹縫固定,能分析的元素也固定,也不能利用不同波長(zhǎng)的譜線進(jìn)行分析;
2、受環(huán)境影響較大,如溫度變化時(shí)譜線易漂移,現(xiàn)多采用實(shí)驗(yàn)室恒溫或儀器的光學(xué)系統(tǒng)局部恒溫及其他措施。